- > מיקרוסקופים הפוכים וישרים
- > סטריאוסקופים ומערכות זום
- > מערכות אוטומטיות בשיטות הדמייה מתקדמות
- > מערכות לייזר
- > מערכות מיקרוסקופיה קונפוקאלית
- > מיקרוסקופיה אלקטרונית
- > מערכות ציפוי
- > מיקרוסקופ X-Ray ו- microCT
- > תוכנות
- > מערכות מיקרוסקופיה דיגיטאלית למחקר ולפתולוגיה
- > מערכות מתקדמות לתעשייה
- > פילטרים ועזרים למיקרוסקופיה
- > אביזרים נילווים למיקרוסקופים
- > מכשור עזר מיקרוסקופיה
מיקרוסקופ X-Ray ו- microCT
פטנט ייחודי של חברת Carl Zeiss (צייס ישראל / זייס ישראל) מאפשר למיקרוסקופ (zeiss microscope israel) ה – X-Ray לבצע הדמיית 3D ברזולוציה גבוהה מרחוק, ללא חיתוך והרס של הדגם – Non Distractive Test.
Context- microCT system
Versa620 – Advanced X-Ray zeiss microscope
