מיקרוסקופיה אלקטרונית

מערכות SEM/HR-SEM מבוססות טכנולוגית ה Gemini הייחודית של Carl Zeiss (צייס מיקרוסקופים / צייס ישראל) מאפשרות הדמיה גבוהה ושילוב מערכות אנליזה, EDX, WDS, EBSD במכשירים פשוטים לתפעול והפעלה גם בסביבה מרובת משתמשים.

CrossBeam- מערכת Focused Ion-Beam  למניפולציה תת מיקרונית של דגמים, בשילוב מערכת ההדמיה של קולונת ה Gemini. למחקר מדעי החומר, תעשיית המוליכים למחצה Semiconductors , ומחקר מדעי החיים.

STM, FE-SEM, Ion-Beam Microscopy, Helium Ion microscopy, Cryo Microscopy  SEM.
, 01 1 25 button 01 

 

    , Gemini 2460 edax eds ebsd s  , lift out1